Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
Overview
Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von D nnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind f r die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einf hrung in die D nnschicht-Photovoltaik erl utern Experten Methoden f r die Ger te- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazit tsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die f r ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und f r Ger tesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden. Diese neue Auflage baut auf einem bew hrten Konzept auf und besch ftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des D nnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.
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Details
- ISBN-13: 9783527339921
- ISBN-10: 3527339922
- Publisher: Wiley-Vch
- Publish Date: October 2016
- Dimensions: 9.8 x 6.9 x 1.8 inches
- Shipping Weight: 4.2 pounds
- Page Count: 760
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