{ "item_title" : "Ellipsometry", "item_author" : [" Tompkins", "McGahan "], "item_description" : "Mit Hilfe der Ellipsometrie mi t man Dicken und optische Eigenschaften d nner Filme. In den vergangenen Jahren hat die ellipsometrische Spektroskopie ebenso wie die eng verwandte Reflektometrie zunehmend die Industrielabors erobert. Dies schafft Bedarf an einer praxisnahen Einf hrung f r ein interdisziplin res Publikum von Materialwissenschaftlern, Physikern, Chemikern und Elektrotechnikern, wie sie mit diesem Buch gelungen ist. (04/99) ", "item_img_path" : "https://covers2.booksamillion.com/covers/bam/0/47/118/172/0471181722_b.jpg", "price_data" : { "retail_price" : "201.95", "online_price" : "201.95", "our_price" : "201.95", "club_price" : "201.95", "savings_pct" : "0", "savings_amt" : "0.00", "club_savings_pct" : "0", "club_savings_amt" : "0.00", "discount_pct" : "10", "store_price" : "" } }

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