{
"item_title" : "Integrated Circuit Failure Analysis",
"item_author" : [" Beck "],
"item_description" : "Funktionstests an integrierten Schaltungen sind f r deren Zuverl ssigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Pr parationstechniken f r die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erl utert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zur ckverfolgen von Ausf llen erm glichen.",
"item_img_path" : "https://covers2.booksamillion.com/covers/bam/0/47/197/401/0471974013_b.jpg",
"price_data" : {
"retail_price" : "248.95", "online_price" : "248.95", "our_price" : "248.95", "club_price" : "248.95", "savings_pct" : "0", "savings_amt" : "0.00", "club_savings_pct" : "0", "club_savings_amt" : "0.00", "discount_pct" : "10", "store_price" : ""
}
}
Overview
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind f r deren Zuverl ssigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Pr parationstechniken f r die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erl utert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zur ckverfolgen von Ausf llen erm glichen.
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Details
- ISBN-13: 9780471974017
- ISBN-10: 0471974013
- Publisher: John Wiley & Sons
- Publish Date: January 1998
- Dimensions: 9.35 x 6.15 x 0.6 inches
- Shipping Weight: 0.96 pounds
- Page Count: 192
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