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Integrated Circuit Failure Analysis|Beck

Integrated Circuit Failure Analysis

by Beck
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Overview

Funktionstests an integrierten Schaltungen sind f r deren Zuverl ssigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Pr parationstechniken f r die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erl utert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zur ckverfolgen von Ausf llen erm glichen.

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Details

  • ISBN-13: 9780471974017
  • ISBN-10: 0471974013
  • Publisher: John Wiley & Sons
  • Publish Date: January 1998
  • Dimensions: 9.35 x 6.15 x 0.6 inches
  • Shipping Weight: 0.96 pounds
  • Page Count: 192

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