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"item_title" : "Semiconductor Device and Failure Analysis",
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"item_description" : "Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzusp ren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bew hrt hat. Dieser Band erl utert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausr stungber spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)",
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Overview
Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzusp ren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bew hrt hat. Dieser Band erl utert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausr stung ber spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)
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Details
- ISBN-13: 9780471492405
- ISBN-10: 047149240X
- Publisher: Wiley
- Publish Date: December 2000
- Dimensions: 10 x 7 x 0.69 inches
- Shipping Weight: 1.58 pounds
- Page Count: 288
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