{ "item_title" : "In-Situ Electron Microscopy", "item_author" : [" Gerhard Dehm", "James M. Howe", "Josef Zweck "], "item_description" : "Von den Grundlagenber das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Ph nomenen bis hinunter zum Nanoma stab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischenberblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; au erdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.", "item_img_path" : "https://covers1.booksamillion.com/covers/bam/3/52/731/973/3527319735_b.jpg", "price_data" : { "retail_price" : "169.95", "online_price" : "169.95", "our_price" : "169.95", "club_price" : "169.95", "savings_pct" : "0", "savings_amt" : "0.00", "club_savings_pct" : "0", "club_savings_amt" : "0.00", "discount_pct" : "10", "store_price" : "" } }

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