menu
{ "item_title" : "Modélisation Du Plasma Spatial", "item_author" : [" Collectif "], "item_description" : "L'environnement radiatif est l'un des probl mes majeurs pour les circuitslectroniques embarqu sbord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifssemi-conducteur pr sent dans l'espace sont expos s aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) etun grand flux de proton provenant desv nements solaires et/ou d'une ceinture de radiation plan taire. Il est imp ratif durant les diff rentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilitet de la charge utile embarqu e. Chaquel ment constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement s v re. Les tests au sol permettent de jauger les capacit s fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilit s. Parmi lesl ments constitutifs de la charge utile du satellite, l' lectronique embarqu e est sujettece qu'on d signe commun ment par panne. Pour cela, unetude d taill e de la fiabilitdoittre entreprise.", "item_img_path" : "https://covers1.booksamillion.com/covers/bam/6/13/152/088/6131520887_b.jpg", "price_data" : { "retail_price" : "69.00", "online_price" : "69.00", "our_price" : "69.00", "club_price" : "69.00", "savings_pct" : "0", "savings_amt" : "0.00", "club_savings_pct" : "0", "club_savings_amt" : "0.00", "discount_pct" : "10", "store_price" : "" } }
Modélisation Du Plasma Spatial|Collectif

Modélisation Du Plasma Spatial

local_shippingShip to Me
In Stock.
FREE Shipping for Club Members help

Overview

L'environnement radiatif est l'un des probl mes majeurs pour les circuits lectroniques embarqu s bord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifs semi-conducteur pr sent dans l'espace sont expos s aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) et un grand flux de proton provenant des v nements solaires et/ou d'une ceinture de radiation plan taire. Il est imp ratif durant les diff rentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilit et de la charge utile embarqu e. Chaque l ment constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement s v re. Les tests au sol permettent de jauger les capacit s fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilit s. Parmi les l ments constitutifs de la charge utile du satellite, l' lectronique embarqu e est sujette ce qu'on d signe commun ment par panne. Pour cela, une tude d taill e de la fiabilit doit tre entreprise.

This item is Non-Returnable

Details

  • ISBN-13: 9786131520884
  • ISBN-10: 6131520887
  • Publisher: Omniscriptum
  • Publish Date: February 2018
  • Dimensions: 9.02 x 5.98 x 0.28 inches
  • Shipping Weight: 0.41 pounds
  • Page Count: 120

Related Categories

You May Also Like...

    1

BAM Customer Reviews